陰極熒光（CL）采用TESCAN MIRA3場(chǎng)發(fā)射掃描和TESCAN 公司陰極發(fā)光探頭進(jìn)行拍攝，步驟如下：    

1、將制成的鋯石靶用酒精擦洗待酒精完全揮發(fā)后用洗耳球?qū)⑵浯祪簦?/span>

2、先拍透射光和反射光，并拼圖

3、將鋯石靶放入鍍金儀內(nèi)以電流25毫安（MA）60秒（S）對(duì)其進(jìn)行鍍金Au 膜（膜鍍?yōu)?0nm）；   

4、取出樣品臺(tái)，用雙面銅導(dǎo)電膠帶將鋯石靶背面平穩(wěn)牢固的固定在樣品臺(tái)上再將鋯石靶正面與樣品臺(tái)之間貼上兩條銀導(dǎo)電膠帶形成導(dǎo)電通路以防荷電。    

5、樣品制備好后將樣品臺(tái)放置于艙內(nèi)關(guān)閉艙門(mén)抽真空，待真空完成后接通電子束，后調(diào)整工作距離WD（樣品臺(tái)與鏡筒之間的距離）用于聚焦使用，此時(shí)樣品所呈現(xiàn)的為二次電子圖像。

   6、針對(duì)樣品選擇合適的加速電壓，在視野模式(Field)下以低倍數(shù)找到要觀察的部分，適當(dāng)縮放倍率(MAG)并聚焦(WD )以及消像散（STG），并選取合適的掃描速度。

  7、待所有參數(shù)設(shè)置好后切換至CL模式，調(diào)節(jié)亮度與對(duì)比度達(dá)到最佳效果后點(diǎn)擊拍照并保存圖片。

提示：顆粒較小的樣品由于需放大200倍以上，有虛化情況，受鋯石發(fā)光性限制，少部分樣品無(wú)法獲得清晰環(huán)帶。

優(yōu)勢(shì)：具有LA-ICP-MS操作經(jīng)驗(yàn)，了解測(cè)試需求，據(jù)樣品實(shí)際情況針對(duì)每個(gè)單靶調(diào)整拍攝參數(shù)。